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抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀 中文菜單 數(shù)據(jù)打印 

一、儀器概況
      KEJSY-A型抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種先進(jìn)的測(cè)量介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）的儀器，用于超頻、變頻、工頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容容量（Cx）。
      本測(cè)試儀淘汰了QSI高壓電橋，具有操作簡(jiǎn)單、中文顯示、打印、使用方便、無需換算、自帶高壓，采用變頻技術(shù)，故抗干擾能力強(qiáng)，測(cè)試時(shí)間短等優(yōu)點(diǎn)。另外，本介質(zhì)損耗測(cè)試儀針對(duì)電容式電壓互感器（CVT）試驗(yàn)困難的特點(diǎn)，增設(shè)了外接法測(cè)試，外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器，使得測(cè)試非常簡(jiǎn)單可靠，是我公司第四代智能化抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀。
二、技術(shù)指標(biāo)
      1、環(huán)境：-5℃～40℃（液晶屏應(yīng)避免長(zhǎng)時(shí)間日照）
      2、相對(duì)濕度：30％～70％ 
      3、供電電源：電壓：220V±10％，頻率50±Hz 
      4、外形尺寸：長(zhǎng)×寬×高=435mm×300mm×300mm
      5、重量：20kg
      6、輸出功率：1KVA
      7、顯示分辨率：3位、4位（內(nèi)部全是6位） 
      8、測(cè)試方法：正接法、反接法、外接法 
      9、測(cè)量范圍：內(nèi)接試驗(yàn)電壓：≤60000PF     
                           外接試驗(yàn)電壓：≤10μF
     10、基本測(cè)量誤差：介質(zhì)損耗（tgδ）：1.5％±0.09％ 
                                  電容容量（Cx）：1.0％±2PF
三、儀器結(jié)構(gòu)
      KEJSY-A型抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀為升壓與測(cè)量一體化結(jié)構(gòu)，輸出電壓2.5KV～10KV五檔可調(diào)，以適應(yīng)各種需要，在測(cè)量時(shí)無需任何外部設(shè)備。接線與QSI電橋相似，但比其方便。
      圖（一）是儀器面板結(jié)構(gòu)圖，各功能鍵有關(guān)使用方法，將在使用方法中具體介紹。
       
                                      圖（一）  介損面板圖
       圖（二）在儀器側(cè)部，按一下倉(cāng)門（PUSH）,將自動(dòng)打開，為儀器測(cè)試接線插孔示意圖，該部位，在儀器工作時(shí)將產(chǎn)生高電壓，使用時(shí)須小心謹(jǐn)慎。
      
             圖（二）儀器測(cè)試接線插孔示意圖
    HV-儀器高壓輸出孔
    CX-測(cè)試電流輸入孔
    CN-外接標(biāo)準(zhǔn)電容孔