福祿克5700A FLUKE 5700A 長期回收 校準儀13537229325
歐陽丕成:13537229325
5700A/5725A隨量程的不同計算出某一點的漂移量，在直流電壓輸出的例子中，每個量程都列出了 FS和-FS兩點， FS參照量程的正滿度值，
-FS參照量程的負滿度值。例如對于220 mV量程來說， FS表示 220 mV直流電壓，-FS表示-220 mV直流電壓。這些點都是用于計算滿度偏移量的。
校準期間的零輸出偏移量：例如220 mV的正向零點，從以前校準時的 0.00 000 mV改變到最近校準時的-0.000 20 mV，如果已經(jīng)貯存這個校
準數(shù)據(jù)，那么在220 mV量程上的所有正向輸出都將增加��0.000 20 mV。
　　象零偏移量一樣，5700A/5725A也計算出在這兩種校準之間滿度點的偏移量值。例如：在220 mV量程上， FS點從過去校準的220.000 00 mV
變成最近校準的199.999 15 mV(220.000 00-0.00 085=��199.999 15)��。用百萬分之一(10-6��)表示：據(jù)公式偏�┮屏开�=1.000 000×
(滿度偏移量/量程滿度測試點)，在220 mV量程上 FS的滿度偏移量為-0.000 85 mV，代入，則偏移量=1.000 000×(-0.000 85 mV/ 220 mV)=-
3.86×10-6。在式樣輸出中表示-3.87×10-6��，由于受分辨率的限制引起的重復誤差有0.01×10-6，對內(nèi)部計算來說，5700A/5725A 重復誤差恒
大于分辨率。
滿度偏移包括檢查滿度點中源的所有偏移,包括增益偏移分量和零點偏移分量。要確定滿度偏移的增益分量，就要從滿度偏移中減去零點偏移。如：��
對220 mV量程上-FS點，總偏移量= 0.000 47 mV��，零偏移分量=-0.000 17 mV，增益
偏移分量= 0.000 64 mV，因為總偏移分量-零偏移分量=滿度增益分量，即 0.000 47 mV-(-0.000 17 mV)= 0.000 64 mV。��
開始檢查5700A/5725A的不確定度時,在手動中指定利用校準時間分類，如在2.2 V總的分類不確定度為6.55×10-6��。��
關(guān)于滿度偏移的分類百分比，公式為偏移（%分類）=100×（滿度偏移/分類）。例如，220 mV量程中，滿度偏移-3.87×10-6��，分類10.41×
10-6��，所以偏移=100×(-3.87×10-6��/10.41×10-6��)=分類的-37.18%。��
對交流輸入來說，在測試點標題下的那一欄和直流輸入有些不同。對于低頻，F(xiàn)S指5700A/5725A計算的滿度點的偏移量，這里不是應用的平滑修
正常數(shù)，這個偏移量為量程增益常數(shù)中的變化結(jié)果（對AC輸出沒有零漂移補償）。在計算不確定度時，5700A/5725A是利用1kHz頻率中的滿度數(shù)量。��
如：在低頻中，2.2VAC量程上的FS點從過去校準的2.200 000 V改變?yōu)樽罱�校準�?.199 982 V。��
在測試點論述頻率時，在哪個頻率，就計算這個頻率輸出的偏移。由于平滑修正輸出的偏移受變化量的影響，這種儀器是在利用滿度點計算不確
定度，并在測試點欄中列出頻率。如2.2 V量程上，50 kHz點從過去校準的2.200 000 mV變到最近校準的��2.199 983 mV��,即2.200 000-0.000
017=2.199 983。��
原器校準技術(shù)和內(nèi)部自校準技術(shù)是計量校準技術(shù)的又一進展，這種技術(shù)在儀器外部采用少量的幾個校準標準，內(nèi)部設計相應的方法和操作程序，
使之能夠使用選定的標準輸入值，對儀器內(nèi)部所有功能和量程的技術(shù)指標實現(xiàn)校準和測試。��
FLUKE5700A/5725A多功能校準器采用貯存和軟件修正技術(shù)，補償儀器的每一個量程的增益和零點的誤差，實現(xiàn)了儀器的不開殼校準，大大簡化了
校準過程，易于實現(xiàn)自動化檢定校準。靠原器校準技術(shù)和內(nèi)部自校準技術(shù)的FLUKE5700A/5725A多功能校準器可以在使用地點，隨時進行自我校準，
完成溯源，使技術(shù)指標達到最優(yōu)
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