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STT鍍層孔隙率測(cè)試 鍍層孔隙率分析 

鍍層孔隙率測(cè)試 鍍層孔隙率分析

鍍層孔隙率測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

EIA 364-53B

測(cè)試：IPC TM 650 2.3.24.2

評(píng)判參考：IPC 6012C中 3.5.4

鍍層孔隙率分析方法：硝酸蒸汽法

測(cè)試樣品要求：客戶指定測(cè)試部位

分析周期：5-7個(gè)工作日

三維X射線掃描（CT）采用計(jì)算機(jī)斷層掃描技術(shù)，在對(duì)被檢測(cè)物體無(wú)損傷的條件下，以二維斷層圖像或三維立體圖像的形式，清晰、準(zhǔn)確、直觀地展示被檢測(cè)物體的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、組成、材質(zhì)及缺損狀況。

三維X射線掃描測(cè)試目的：確定產(chǎn)品內(nèi)部可能存在的缺陷的類型、位置以及尺寸。

深圳市賽特檢測(cè)有限公司（STT）擁有CNAS，CMA，出具國(guó)家認(rèn)可的檢測(cè)報(bào)告，STT在工業(yè)品檢測(cè)、消費(fèi)品檢測(cè)、貿(mào)易保障及生命科學(xué)四大領(lǐng)域，提供電子電器產(chǎn)品可靠性與失效分析，有害物質(zhì)檢測(cè)，材料可靠性與失效分析，運(yùn)輸包裝檢測(cè)，汽車(chē)整車(chē)及其零部件檢測(cè)，EMC，環(huán)境安全檢測(cè)，產(chǎn)品認(rèn)證與培訓(xùn)，半導(dǎo)體及相關(guān)領(lǐng)域檢測(cè)分析等多項(xiàng)綜合檢測(cè)與認(rèn)證服務(wù)。歡迎您來(lái)電咨詢。

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