四探針 選購指南
BEST-300C四探針電阻率測試儀北廣精儀
Rr=V;R,/V=V/I,……… R,=V,R,/V_=V,/I,- 電阻測量范圍： 對于薄層厚度小于3μm的試樣，選用針尖半徑為 100 μm~250 μm的半球形探針或針尖率徑為50 μm～125 pm平頭探針，針尖與試樣間壓力為0.3 N~0.8Ni對于薄層厚度不小于3μ的試樣，選用針尖半徑為 35 μm~100 pm 半球形操針，針尖與試樣間壓力不大于0.3 N. 當直接測量電流時，采用式（1）、式（2）最右邊的形式。對于仲載測量，R，與R，之差的絕對值必須小于較大值的 5%。 電阻：1×10-5～2×105Ω R-——通過正向電流時試樣電阻，單......
￥29000電話：18911397564 18911397564 吳穎 
四探針電阻率方阻測試儀
金屬四探頭電阻率方阻測試儀 - HS-MPRT-5 本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規定設計。 它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分選材料也可以用來作產品檢測。對......
電話：010-60546837 15910963468 肖宗鏞
