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所有分類(lèi)下結(jié)果進(jìn)口無(wú)接觸硅片測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
手動(dòng)硅片測(cè)試儀可以測(cè)量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度，該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料實(shí)驗(yàn)協(xié)會(huì))和Semi標(biāo)準(zhǔn)，確保與其他工藝儀器的兼容與統(tǒng)
太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試儀
[中介]PH-IQE200為太陽(yáng)能電池光譜響應(yīng)測(cè)試，或稱(chēng)量子效率QE（Quantum Efficiency）測(cè)試，或光電轉(zhuǎn)化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測(cè)試等，廣義來(lái)說(shuō)，就是測(cè)量光
無(wú)接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無(wú)接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)為太陽(yáng)能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無(wú)接觸電阻率測(cè)量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
藍(lán)寶石偏光應(yīng)力儀
[中介]產(chǎn)品介紹:
PKS-250M偏光儀可對(duì)透明及弱色材料的雙折射率進(jìn)行檢測(cè)，并通過(guò)Senarmont補(bǔ)償法精確計(jì)算出光程誤差不超過(guò)10nm的雙折射率的值。并通過(guò)偏振光對(duì)雙折射率的分布進(jìn)行檢測(cè)分析。折射率的分布和大小直
無(wú)接觸體電阻率型號(hào)測(cè)試儀
[中介]產(chǎn)品介紹
HS-TRM-100型無(wú)接觸式電阻率型號(hào)測(cè)試儀是基于渦流（Eddy Current）測(cè)試技術(shù)，能夠?qū)枇稀⒐璋簟⒐桢V及硅片進(jìn)行無(wú)接觸、無(wú)損傷的體電阻率測(cè)試。
無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無(wú)接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽(yáng)能電池片制造過(guò)程中對(duì)表面厚度TTV電阻率無(wú)損測(cè)量的專(zhuān)業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國(guó)材料
激光橢偏儀針對(duì)晶硅太陽(yáng)能電池絨面上的減反膜測(cè)量
[中介]多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專(zhuān)門(mén)針對(duì)晶硅太陽(yáng)能電池絨面上的減反膜測(cè)量，能夠測(cè)量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長(zhǎng)氦氖激光器，具有極高的精確度和準(zhǔn)確度。
硅片表面線(xiàn)痕深度測(cè)試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線(xiàn)痕深度測(cè)試儀可用于測(cè)試硅片的表面線(xiàn)痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節(jié)能等優(yōu)點(diǎn)，同時(shí)內(nèi)置打印機(jī)和充電電池，所有設(shè)計(jì)均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標(biāo)準(zhǔn)。
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[廈門(mén) 數(shù)碼/通訊] 福建/廈門(mén)/湖里/湖里街道 湖里區(qū)金尚路金民里98號(hào)
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