材料
所有分類下結(jié)果無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
藍(lán)寶石偏光應(yīng)力儀
[中介]產(chǎn)品介紹:
PKS-250M偏光儀可對(duì)透明及弱色材料的雙折射率進(jìn)行檢測，并通過Senarmont補(bǔ)償法精確計(jì)算出光程誤差不超過10nm的雙折射率的值。并通過偏振光對(duì)雙折射率的分布進(jìn)行檢測分析。折射率的分布和大小直
硅片厚度測厚儀
[中介]硅片測厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測量。
特征
液晶顯示
接觸式測量
手動(dòng)測量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示
具有輸出接口，可選配適配器實(shí)現(xiàn)232接口功能
技術(shù)指標(biāo)
測
無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對(duì)表面厚度TTV電阻率無損測量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
原生多晶及硅芯型號(hào)測試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號(hào)測試儀是一款高端半導(dǎo)體材料型號(hào)測試儀器，具有大量程測試范圍的特點(diǎn)，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號(hào)測量，型
半自動(dòng)硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動(dòng)升降
■手動(dòng)、自動(dòng)雙重測量模式
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及
硅材料碳氧測試儀
[中介]1）適合于硅材料的氧、碳含量的測定；
2）可實(shí)現(xiàn)硅料中氧碳含量自動(dòng)、快速、準(zhǔn)確的測量；
3）具備完整的譜圖采集、光譜轉(zhuǎn)換、光譜處理、光譜分析及輸出功能，使得操作更簡單、方便、靈活。
4）全
