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所有分類下結果無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
光譜橢偏儀全自動
[中介]全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調節樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準是為了保證橢偏儀測量的可重復性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于
自動光譜橢偏儀
[中介]光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應用的光譜
硅片表面線痕深度測試儀
[中介]HS-SRT-301型硅片線痕深度測試儀可用于測試硅片的表面線痕深度，具有便于攜帶、觸摸屏便捷操作、液晶顯示、節能等優點，同時內置打印機和充電電池，所有設計均符合JIS,DIN,ISO,ANSI等標準。
原生多晶及硅芯型號測試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款高端半導體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點，尤其適用于西門子法原生硅料生產企業的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號測量，型
半自動硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試方法有關規定設計。 它主要由電器測量部份（主機）及
硅材料碳氧測試儀
[中介]1）適合于硅材料的氧、碳含量的測定；
2）可實現硅料中氧碳含量自動、快速、準確的測量；
3）具備完整的譜圖采集、光譜轉換、光譜處理、光譜分析及輸出功能，使得操作更簡單、方便、靈活。
4）全
紅外探傷測試儀
[中介]NIR-01-3D型紅外探傷測試儀是采用歐洲CNC工程鋁合金材料，其表面都采用了高強度漆面和電氧化工藝保護，系統外框采用高質量工業設計，所有的部件的設計都達到了長期高強度使用及最小維護量的要求，做到絕對
PL光致發光測試系統
[中介]產品介紹:
Helios-PL光致發光測試系統能夠對多種太陽能電池少子壽命進行快速二維分析，能夠準確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度，同時準確反饋結果以很好的改進電池的生產工藝。
[北京 儀器儀表]
